仪器型号：理学SmartLab

功能：对各种粉末、块体等样品进行物相定性分析、RIR分析、结晶度测定、晶格常数测定、晶体结构精修等分析表征。

技术参数指标：

X射线源：最大工作功率：9 kW，可连续稳定工作8小时以上

靶材：Cu；像素分辨率：≥0.075 mm

额定电流：≥200 mA；额定电压：≥45 kV

测角仪半径：≥300 mm；2θ扫描角度范围：≥-3°~160°；最小角度步进：≤0.0001°

探测器：探测器类型：硅阵列光子直读类型；支持零维、一维模式，程序切换；有效面积：≥350 mm2

一维模式下通道数：≥250个

光路系统：配备交叉光路系统，实现平行光路和聚焦光路的自动切换，无须手动切换；

光学器件：多层膜透镜；自动可调入射狭缝范围：不小于0.1～7 mm，最小步进不大于0.01 mm；自动可调接收狭缝范围：不小于0.1～19 mm，最小步进不大于0.01 mm

原位反应高温台：室温~900℃，支持空气、惰性气体、真空、反应气，配置真空泵

自动进样器： 6位，旋转速度1~120 rpm，支持透射和反射模式

软件及数据库：物相检索定性分析、半定量和定量分析功能；Rietveld法精修功能；晶粒大小和结晶度分析功能；线形分析和点阵参数精修功能

分析测试中心